Rasterkraftmikroskopie

  • Worum geht's?

Bestimmung der Oberflächentopographie von Mikro- und Nanostrukturen mit einem Rasterkraftmikroskop, Rauschmessungen, Messung der Adhäsionskraft zwischen Substrat und Cantileverspitze.

  • Wie wird's gemacht?

Mittels Rasterkraftmikroskopie wird die Oberflächentopographie verschiedener Mikro- und Nanostrukturen bestimmt. In diesem Zusammenhang lernen die Studenten die unterschiedlichen Betriebsmodi (contact und non-contact mode) eines Rasterkraftmikroskops kennen und studieren anhand von Rauschmessungen den Einfluss von elektrischem und strukturellem Rauschen. Zum Abschluss wird mittels Kraft-Distanz Kurven die Adhäsionskraft zwischen Cantileverspitze und Substrat gemessen.

  • Was wird gelernt?

Grundlegende Funktionsweise eines Rasterkraftmikroskops nach dem Lichtzeigerprinzip, verschiedene Betriebsmodi eines Rasterkraftmikroskops, Einfluss von elektrischem und strukturellem Rauschen, Bestimmung von Adhäsionskräften.

  • Wofür ist das interessant?

Bestimmung des spezifischen Widerstands von elektrisch leitfähigen Nanostrukturen, Charaktersierung und Analyse von Mikro- und Nanostrukturen z.B. bei der Qualitätssicherung im Rahmen des Fertigungsprozesses von Computerprozessoren, Life-Science Anwendungen.