Methoden & Geräte

Wir bieten folgende Servicemessungen an.

 

Methode

Anwendung

Auflösung

Rasterkraftmikroskopie
(AFM)

schön animierte Erklärungen (englisch)

Untersuchung von Oberflächenbeschaffenheit und molekularer Wechselwirkung H: 100µm bis 100nm
V: 200 bis 2nm

Rastertunnelmikroskopie
(RTM)

   

Ellipsometer

Bestimmung des Real- und Imaginärteils der komplexen dielektrischen Funktion und/oder die Schichtdicke dünner Schichten. 0.1 Å
Lichtmikroskop Erzeugung stark vergrößerter Bilder von kleinen (oft für das Auge nicht sichtbaren) Objekten durch die Ausnutzung optischer Effekte. 40-, 200- und 1000-fache Vergrößerung, Durch-, Auf- und Seitenlicht.

Oberflächen-plasmonen- Resonanzspektroskopie
(SPR)

Informationen vom Hersteller

Untersuchung von Adsorptionskinetiken, Schichtdickenmessungen Detektion molekularer Monolagen

Quarzkristallmikrowaage
(QCM)

Informationen vom Hersteller

Detektion von Abscheidungen, Massenbestimmung Gewichtsveränderung im ng-Bereich

Infrarot-Reflexions-Absorptions-Spektroskopie
(IRRAS)

Untersuchung von dünnen (bis monomolekularen) Schichten auf reflektierenden Substraten

Das Spektrometer wird meist im Bereich von 1 bis 4cm-1 betrieben

Elektrochemie    
Rasterelektronen-Mikroskopie

(REM)

   

Gaschromatographie/
Massenspektrometrie

   
Gaschromatographie    

Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy
(FLIM)

   
Leica Reichert Univar Microscope